英文誌(2004-)
一般口演
基礎(5) 減衰・散乱
(S0293 - S0294)
後方散乱係数測定のための各種回折補正法の実験的比較
Experimental Comparison of Diffraction Correction Methods for Backscattering Coefficient Measurement
有本 陽助, 田部井 誠, 上田 光宏
Y. ARIMOTO, M. TABEI, M. UEDA
東工大精研
Research Laboratory of Precision Machinery and Electronics, Tokyo Institute of Technology
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