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1993 - Vol.20

特別企画
パネルディスカッション
超音波画像の評価：Eの立場より

（S0005 - S0006）

介在媒質と画質

Image Quality and Phase Aberration Medium.

上田光宏

Mitsuhiro UEDA

東京工業大学　理工学国際交流センター

International Cooperation Center for Science and Technology, Tokyo Institute of Technology

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